leeb251型渦流測(cè)厚儀,氧化膜測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域；該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
leeb251型渦流測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4957-1985 渦流方法；
JJG 818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》；
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測(cè)厚儀。
leeb251型渦流測(cè)厚儀功能與特點(diǎn)
采用了渦流測(cè)厚法，可無損傷地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度
（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）；
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
leeb251型渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)頭類型：N
測(cè)量原理：電渦流
測(cè)量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)
探頭連接方式：一體化
leeb251型渦流測(cè)厚儀示值誤差：
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
leeb251型渦流測(cè)厚儀測(cè)量條件：
***小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
基體***小面積的直徑(mm)：ф5
***小臨界厚度(mm)：0.3
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
leeb251型渦流測(cè)厚儀上下限設(shè)置：無
關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：250g